СОВРЕМЕННЫЕ РАЗРАБОТКИ В ОБЛАСТИ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ Сергей Краснобородько, исполнительный директор компании «ЭМТИОН» – О чем встреча? Материалы, содержащие нанометровые структурные элементы, уже вышли за пределы лабораторий и начинают использоваться в электронике, машиностроении, строительстве, медицине. Одним из основных методов их измерения является сканирующая зондовая микроскопия, позволяющая получать информацию о характеристиках поверхности образца, таких как рельеф, жесткость, адгезия, проводимость, электростатическая и магнитная карты, за один цикл сканирования. В качестве микромеханического зонда применяют кантилевер. Это основание, к которому крепится гибкая балка. На ее верхнем конце перпендикулярно расположена острая игла. Методы СЗМ основаны на регистрации взаимодействия кантилевера с образцом, которое, в свою очередь, определяется расстоянием между поверхностью образца и зондом, материалом покрытия зонда. Таким образом можно исследовать не только морфологию поверхности, но и ее электрофизические характеристики. Современные микроскопы, позволяют реализовать несколько десятков различных методик измерений. Их все реализует платформа NTEGRA. Система имеет единую базу и блок управления, а различные модификации измерительных головок и оснастки, интеграция с другими методами, позволяют ориентировать прибор под различные задачи, включая 📌 работу в низком вакууме и контролируемой атмосфере, 📌 магнитные исследования, 📌 работу с буферными растворами и электролитами для исследования биообъектов и электрохимчических экспериментов, 📌 ближнепольоные оптические измерения. Помимо этого, реализована методика прыжковой микроскопии для наномеханического анализа. Это нерезонансная методика. Сканирование проходит путем снятия и анализа силовых кривых в каждой точке сканирования. Принцип работы следующий: зонд подходит к поверхности до достижения заданного усилия прижатия, при этом записывается кривая нагрузки, после чего зонд может остаться в контакте с поверхностью в течение заданного времени, далее происходит отвод с записью кривой разгружения, затем осуществляется переход в следующую точку сканирования. Так можно варьировать усилие прижатия и одновременно с топографией получать распределение модуля Юнга, адгезионных сил, жесткости, проводимости.
Hide player controls
Hide resume playing