Guest
Докладчик Дудик Степан Павлович, младший научный сотрудник Лаборатории микро- и нанофлюидики НИИ Системной биологии и медицины Роспотребнадзора Тема семинара «Введение в атомно-силовую микроскопию» Аннотация «Атомно-силовая микроскопия — универсальный метод исследования топологии поверхности материала, позволяющий достигать ангстремного разрешения и получать множество электрофизических параметров исследуемых образцов. В данной лекции будут представлены основные методы сканирования поверхности, основные принципы, лежащие в основе атомно-силовой микроскопии, принцип силовой спектрометрии и примеры полученных на базе НИИ СБМ результатов.»
